肖雷,黄永忠,邱荣邦

• 1:深圳市奥拓电子股份有限公司

摘要(Abstract)：

加速寿命试验可以在不改变产品失效机理的条件下用较短的时间预计产品的可靠性水平,是一种经济、便捷、有效的寿命评估方法。本文对加速寿命试验的基本试验方法、失效模型、加速因子进行了详细阐述。选取LED模组,通过高温高湿恒定应力加速寿命试验,预估出LED模组在常温下的平均寿命,对试验相关结果进行了分析和讨论。

关键词(KeyWords)： LED模组;加速寿命;恒定应力

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 肖雷,黄永忠,邱荣邦

DOI: 10.16453/j.issn.2095-8595.2014.03.015

参考文献(References)：

• [1]刘明治.可靠性试验.电子工业出版社,2004(8).
• [2]罗文,魏建中,阳辉等.元器件可靠性试验工程.2005(3):41-45,49-52.